• Misurazione affidabile e ripetibile delle caratteristiche dinamiche dei semiconduttori di potenza a banda larga (SiC, GaN).
• Le caratteristiche misurate includono: accensione, spegnimento, commutazione, recupero inverso, carica del cancello e molti altri.
• L'ambiente di prova di SAT sia per il DUT che per l'utente.
• Piattaforma modulare espandibile e aggiornabile che consente di testare tutti i dispositivi di alimentazione.

Come soluzione di misurazione disponibile, il PD1500A fornisce misurazioni affidabili e ripetibili di semiconduttori a banda larga.La piattaforma garantisce la sicurezza dell'utente e la protezione dell'hardware di misura del sistema.

La capacità di garantire risultati DPT ripetibili si basa sull'esperienza di Keysight nella scienza delle misure.bassa perdita (femmampere), e potenza pulsata (1.500 A corrente, risoluzione di 10 μs).

Inclusi con il PD1500A sono tecniche di misurazione standard come la compensazione della sonda, la regolazione dello spostamento, la de-squilibrio e il rifiuto del rumore in modalità comune.Queste tecniche sono utilizzate all'interno di un'innovativa topologia di misurazione e layoutPer questo sistema è stata specificamente sviluppata una routine di taratura semiautomatica (AutoCal) che corregge gli errori di guadagno e di compensazione del sistema.Il sistema utilizza anche tecniche di de-incorporazione per compensare i parassiti induttivi nel shunt corrente.

JEDEC è leader mondiale nello sviluppo di standard e pubblicazioni aperti per l'industria microelettronica.I comitati JEDEC sono leader del settore nello sviluppo di standard per una vasta gamma di tecnologie.

Comitato JEDEC: JC-70 Semiconduttori di conversione elettronica di potenza a banda larga
Gli standard JEDEC hanno riconosciuto la necessità di fornire standard WBG per l'industria dei semiconduttori.il comitato JC70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor è stato formato per entrambi i GaN JC70.1 e SiC JC-70.2 Ogni sezione ha tre gruppi di lavoro, incentrati sulle procedure di affidabilità e qualificazione, sugli elementi e sui parametri delle schede dati e sui metodi di prova e di caratterizzazione.

Keysight partecipa attivamente allo sviluppo di tali standard.

Mentre JEDEC continua a definire i test dinamici dei dispositivi WBG, alcuni test standardizzati stanno iniziando ad emergere.

• Caratteristiche di accensione
• Caratteristiche di spegnimento
• Resistenza di accensione dinamica
• Corrente e tensione dinamiche
• Caratteristiche di commutazione
• Recupero inverso
• Tariffa di accesso
• Caratteristiche di uscita derivate