• Misurazione affidabile e ripetibile delle caratteristiche dinamiche dei semiconduttori di potenza a banda larga (SiC, GaN) per dispositivi discreti e moduli di potenza.
• Le caratteristiche misurate includono accensione, spegnimento, commutazione, recupero inverso, carica del cancello e molti altri.
• Una sonda di isolamento True Pulse per misurare il dispositivo di alto lato di un modulo di alimentazione.
• Tecnologia di contatto senza saldatura per risultati ripetibili e affidabili senza saldatura.
• Ambiente di prova sicuro sia per il DUT che per l'utente.
• Piattaforma modulare personalizzabile, espandibile, aggiornabile, che consente di testare tutti i dispositivi di alimentazione.

Come soluzione di misurazione disponibile, il PD1550A fornisce misurazioni affidabili e ripetibili di moduli di potenza semiconduttori a banda larga.La piattaforma garantisce la sicurezza dell'utente e la protezione dell'hardware di misura del sistemaLa capacità di garantire risultati ripetibili e affidabili dei test a doppio impulso (DPT) è basata sugli oltre 80 anni di esperienza di Keysight nella scienza delle misurazioni.Con l'esperienza acquisita lavorando a stretto contatto con i clienti e le organizzazioni di normazione con il PD1500A, Keysight sta ora aiutando i clienti a superare le sfide della caratterizzazione dinamica dei moduli di potenza WBG.bassa perdita (intervallo femto-ampere), e potenza pulsata (1.500 A corrente, risoluzione di 10 μs).

Inclusi con il PD1550A sono tecniche di misurazione standard avanzate come la compensazione della sonda, la regolazione dello spostamento, la de-squilibrio e il rigetto del rumore in modalità comune.Queste tecniche sono utilizzate all'interno di un'innovativa topologia di misurazione e layoutUna routine di taratura semi-automatica (AutoCal) che corregge gli errori di guadagno e di compensazione del sistema è stata sviluppata specificamente per questo sistema.Il sistema utilizza anche tecniche di de-incorporazione per compensare i parassiti induttivi nel shunt correnteLa tecnologia True Pulse Isolate Probe per misure Vgs accurate a lato alto e la tecnologia di contatto senza saldatura consentono misure affidabili ripetibili senza dover saldare grandi pad di contatto.

Il Joint Electron Device Engineering Council (JEDEC) è leader mondiale nello sviluppo di standard e pubblicazioni aperti per l'industria della microelettronica.I comitati JEDEC sono leader del settore nello sviluppo di standard per una vasta gamma di tecnologie.

Comitato JEDEC: JC-70 Semiconduttori di conversione elettronica di potenza a banda larga
Gli standard JEDEC hanno riconosciuto la necessità di fornire standard WBG per l'industria dei semiconduttori.il comitato JC70 Wide Bandgap Power Electronic Conversion Semiconductor è stato formato per entrambi i GaN JC70.1 e SiC JC-70.2 Ogni sezione ha tre gruppi di lavoro, incentrati sulle procedure di affidabilità e qualificazione, sugli elementi e sui parametri delle schede dati e sui metodi di prova e di caratterizzazione.

Keysight partecipa attivamente allo sviluppo di tali standard.

Mentre JEDEC continua a definire i test dinamici dei dispositivi WBG, alcuni test standardizzati stanno iniziando ad emergere.

• Caratteristiche di accensione
• Caratteristiche di spegnimento
• Resistenza di accensione dinamica
• Corrente e tensione dinamiche
• Caratteristiche di commutazione